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Vanta Element可探測(cè)鎂|鋁元素分析儀
Vanta Element可探測(cè)鎂|鋁元素分析儀Vanta分析儀是奧林巴斯的高級(jí)手持式X射線熒光（XRF）設(shè)備。這款堅(jiān)固耐用的Vanta XRF分析儀通過(guò)了IP認(rèn)證和墜落測(cè)試，可以在檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的元素分析，并提供具有實(shí)驗(yàn)室水平的檢測(cè)結(jié)果。
Vanta Element可探測(cè)鎂|鋁元素分析儀
奧林巴斯新開發(fā)的Vanta分析儀是奧林巴斯迄今為止***的手持式X射線熒光（XRF）設(shè)備。這款堅(jiān)固耐用、性能強(qiáng)大、簡(jiǎn)單直觀的分析儀，可以為那些要求在野外環(huán)境獲得精準(zhǔn)分析水平的用戶，進(jìn)行快速高效的元素分析和合金辨別。
Vanta手持式XRF分析儀是奧林巴斯有史以來(lái)制造的zei結(jié)實(shí)的設(shè)備之一。Vanta分析儀堅(jiān)固耐用的機(jī)身結(jié)構(gòu)使其不會(huì)輕易受到損傷，因此可以工作更長(zhǎng)的時(shí)間，并降低用戶的擁有成本。Vanta系列分析儀的界面瀏覽簡(jiǎn)單直觀，而且用戶可以對(duì)其軟件按鍵自行配置，所以操作人員只需接受簡(jiǎn)單的基礎(chǔ)培訓(xùn)，就可以輕松地使用分析儀，用戶也因此會(huì)獲得非常高的分析量，并迅速獲得投資回報(bào)。Vanta分析儀使用了奧林巴斯的創(chuàng)新型Axon技術(shù)，就意味著在更多樣復(fù)雜的環(huán)境中或工作條件下，分析儀都可以為用戶提供精確的結(jié)果，從而有助于生產(chǎn)效率的提高。
特性：
1. 堅(jiān)固耐用
- 符合IP65評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，具有防塵和防水的特性
- 通過(guò)了從4英尺高處墜落的測(cè)試（MIL-STD 810G）
- 可以在-10 °C到50 °C的溫度范圍內(nèi)操作
2. 改進(jìn)創(chuàng)新
- 融入新開發(fā)的Axon技術(shù)，與新款四核處理器結(jié)合一起使用，提供重復(fù)性更高的精確檢測(cè)結(jié)果
- 嵌入式GPS，可以記錄XRF數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的地理位置信息
3. 高效多產(chǎn)
- 簡(jiǎn)單直觀的新式用戶界面
- 可選購(gòu)的Wi-Fi和藍(lán)牙功能，可以實(shí)時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)分享
- 出色的分析性能，更快速度獲得結(jié)果
產(chǎn)品特點(diǎn)
一、經(jīng)濟(jì)實(shí)用
Vanta Element手持式XRF系列分析儀可以對(duì)元素進(jìn)行分析，從而可使用戶快速完成合號(hào)的辨別和分揀。
二、合金辨別
Vanta Element-S分析儀可以完成合金辨別,并探測(cè)到包含鎂(Mg)、鋁(Al）、硅(Si）、硫(S)和磷(P)在內(nèi)的輕元素.
這兩種型號(hào)的分析儀都可以快速辨別合號(hào),并在屏幕上清楚地顯示牌號(hào)對(duì)比信息,從而可加速金屬檢測(cè),有效完成廢料分揀、金屬制造和貴金屬分析等應(yīng)用.
類似于智能手機(jī)的用戶界面,易于學(xué)習(xí),使用方便,有助于簡(jiǎn)化用戶的培訓(xùn)過(guò)程和分揀過(guò)程.
三、連通性
Vanta Element系列分析儀具有連通性能,有助于簡(jiǎn)化廢料金屬的回收和質(zhì)量控制過(guò)程.
四、重復(fù)性的結(jié)果
Vanta分析儀的電子部件
Axon技術(shù)的穩(wěn)定性和計(jì)數(shù)率
五、方便的數(shù)據(jù)管理
具有無(wú)線連通性能(可選配)，可方便地將數(shù)據(jù)傳輸?shù)骄W(wǎng)絡(luò)上的文件夾中
使用奧林巴斯的科學(xué)云系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，并可實(shí)時(shí)以遠(yuǎn)程方式查看數(shù)據(jù)
直接將數(shù)據(jù)導(dǎo)出到USB驅(qū)動(dòng)盤中。
用于存儲(chǔ)結(jié)果的1GB工業(yè)用microSD卡
六、堅(jiān)固耐用
可用于條件惡劣的環(huán)境中，且其擁有成本較低。
符合IP54評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，具有防塵和防潮的特性。
通過(guò)墜落測(cè)試(MIL-STD-810G)，可避免分析儀在墜落時(shí)受到損壞，從而減少了高成本維修。
經(jīng)過(guò)評(píng)定，在-10 °C到45 °C的溫度范圍內(nèi)，可以持續(xù)進(jìn)行檢測(cè)。
防磨不銹鋼面板。
無(wú)需使用工具即可方便地更換窗口。
Vanta Element可探測(cè)鎂|鋁元素分析儀
